LED芯片
LED芯片的相关文献在2003年到2023年内共计5268篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、自动化技术、计算机技术、工业经济
等领域,其中期刊论文67篇、会议论文14篇、专利文献374772篇;相关期刊46种,包括中关村、英才、演艺科技等;
相关会议10种,包括第八届中国国际半导体照明论坛、第七届华东三省一市真空学术交流会、第十二届全国LED产业研讨与学术会议(2010’LED)等;LED芯片的相关文献由4573位作者贡献,包括陈凯轩、庄家铭、李国强等。
LED芯片—发文量
专利文献>
论文:374772篇
占比:99.98%
总计:374853篇
LED芯片
-研究学者
- 陈凯轩
- 庄家铭
- 李国强
- 仇美懿
- 刘英策
- 林志伟
- 邬新根
- 李俊贤
- 徐现刚
- 胡加辉
- 李东昇
- 江忠永
- 陈立人
- 徐亮
- 金从龙
- 李庆
- 李起鸣
- 张昊翔
- 庄文荣
- 张宇
- 闫宝华
- 周弘毅
- 崔永进
- 王海燕
- 徐慧文
- 刘兆
- 林志霆
- 魏振东
- 徐平
- 贾钊
- 丁海生
- 刘召军
- 吴奇隆
- 易翰翔
- 曲晓东
- 赵进超
- 王洪
- 蔡建九
- 陈亮
- 郝锐
- 周仕忠
- 卓祥景
- 康建
- 崔恒平
- 赵斌
- 周圣军
- 郝茂盛
- 不公告发明人
- 孙明
- 潘彬
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陈桂秀
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摘要:
文章基于不同的应力加速模式对LED芯片进行寿命试验,比较应力加速模式和正常老化模式的光电参数、LED电流和结温变化,分析加速应力和光通量衰减等参数之间的关系,分析测量光参数可能出现的突变点,确定温度加载极限。根据不同组合加速测试方法,对相关测试数据进行曲线拟合,分析测试结果的合理性并推断所选取样品的老化寿命。结果表明:“高温+电气”组合应力加速寿命试验方法具有可行性。
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林蔓
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摘要:
三安光电成立于2000年,主要从事全色系超高亮度LED外延片、芯片、Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料、微波通讯集成电路与功率器件、光通讯元器件等的研发、生产与销售。其第一大主业LED芯片业务前期由于竞争激烈陷入低迷,但随着Mini LED等新应用出现,正逐渐摆脱冗余、利微的窘境。
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邢晓凤
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摘要:
每当夜幕降临,南昌赣江两岸,光影交错的LED灯光秀,似散落人间的满天星辰,如梦如幻,一眼千年。今日的南昌,已成为LED产业重镇:LED芯片产能已跃居全球前三,成为国内最大的大功率LED光源生产基地,手机闪光灯和移动照明出货量全球第一。硅衬底LED技术发明人、中国科学院院士、南昌大学副校长江风益,时常在深夜加班之际,抬头凝望窗外这满城“繁星”,心中涌起万千波澜,璀璨的背后是无数个孤独之夜的黑暗探索和数不清的失败尝试。
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李思宏;
侯想;
罗荣煌;
刘杨;
钟梦洁;
罗学涛
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摘要:
为了提高氮化镓(GaN)基发光二极管(LEDs)的发光性能,采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)在蓝宝石衬底上沉积SiO_(2)薄膜,经过光刻和干法刻蚀技术制备了SiO_(2)图形化蓝宝石衬底(SiO_(2)patterned sapphire substrate,SPSS),利用LED器件的外延生长和微纳加工技术获得了基于SPSS的GaN基LED器件。通过分析GaN外延层晶体质量、光提取效率和LED器件性能,重点研究了SPSS对GaN生长及LED发光性能的影响。实验及模拟仿真结果表明,与常规图形化蓝宝石衬底(Conventional patterned sapphire substrate,CPSS)相比,SPSS上生长的GaN外延层位错密度较低,晶体质量较高,SPSS-LED的光提取效率提高26%、光输出功率和亮度均提高约5%。
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李思宏;
侯想;
罗荣煌;
刘杨;
钟梦洁;
罗学涛
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摘要:
为了提高氮化镓(GaN)基发光二极管(LEDs)的发光性能,采用等离子体增强化学气相沉积(PECVD)在蓝宝石衬底上沉积SiO2薄膜,经过光刻和干法刻蚀技术制备了SiO2图形化蓝宝石衬底(SiO2 patterned sap-phire substrate,SPSS),利用LED器件的外延生长和微纳加工技术获得了基于SPSS的GaN基LED器件.通过分析GaN外延层晶体质量、光提取效率和LED器件性能,重点研究了SPSS对GaN生长及LED发光性能的影响.实验及模拟仿真结果表明,与常规图形化蓝宝石衬底(Conventional patterned sapphire substrate,CPSS)相比,SPSS上生长的GaN外延层位错密度较低,晶体质量较高,SPSS-LED的光提取效率提高26%、光输出功率和亮度均提高约5%.
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梁伏波;
杨小东;
封波
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摘要:
在硅衬底上通过金属有机化学气相沉积(MOCVD)生长氮化镓外延片,经过芯片工艺加工成尺寸在4 mil×4 mil至7 mil×7 mil的蓝绿Mini LED芯片,再匹配普通或反极性红光LED芯片,可以制作全垂直结构LED芯片的超高清全彩显示屏.主要应用在户内外显示、高清娱乐、远程视频会议等场景应用.相较于当前的蓝宝石衬底的蓝绿LED芯片有节省器件空间、生产设备效率高、可靠性好、显示效果优良,可以制作间距在P1.0及以下的超高清显示屏等优点.相同尺寸的垂直结构的mini蓝绿芯片较普通蓝宝石的发光面积要大20% ~40%,因蓝宝石的N电极要占用芯片发光区面积,而垂直芯片则没有此项面积损失.
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摘要:
近期,三安光电在高端产业领域的动态连连。一方面,湖北三安Mini/Micro LED项目正式投产;另一方面,三安集成的碳化硅晶圆制造基地也将于下半年投产。湖北三安第一批晶圆片正式投料根据国家葛店经开区消息显示,4月16日,湖北三安III-V族化合物半导体项目第一批晶圆片正式投料,标志着湖北三安的Mini/Micro LED芯片生产线投产。
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摘要:
数十KK级别的巨量转移技术是推动MicroLED商用的关键环节,现有LED芯片转移方式无法满足,需要全新的技术实现:MicroLED显示技术在芯片制作、巨量转移、检测修复等领域尚有很多技术问题要解决。MicroLED是未来最具潜力的新型显示技术:LEDinside定义MicroLED指无蓝宝石衬底,且芯片尺寸至少小于75pm的微型LED芯片,MicroLED阵列可以达到超高密度像素级别并具备自发光特性。
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周学腾
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摘要:
在知识产权愈发重要的情况下,企业该如何调整经营策略?近年来,企业专利保护意识不断增强,专利纠纷案件持续增多。知识产权保护对高科技企业的发展有何影响?在知识产权愈发重要的情况下,企业该如何调整经营策略?2020年底,国内LED芯片行业市场份额排名第一的三安光电股份有限公司和排名第二的华灿光电股份有限公司卷入一起涉及LED芯片基础技术的专利纠纷,如此量级的两家公司爆发知识产权冲突引发了业界的广泛关注。
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顾天娇
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摘要:
三安光电(600703.SH)既是LED光电龙头,也是集成电路新贵,它从照明领域的LED芯片出发延伸至Mini LED、Micro LED等高端芯片领域,又砸重金布局PA射频、第三代半导体材料等领域,只要能在其中某一条赛道做到全球领先,都不止现在的千亿市值。但尽管布局优质赛道,LED也逐渐回暖,三安光电仍处于“青黄不接”的状态,2021年一季度,其营收为27.17亿元,同比增加62%,归母净利润为5.57亿元,同比增加42%,但政府补助在当期归母净利润中占比近九成,实际上扣非归母净利润同比减少54%。
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王万晶;
李喜峰;
张建华;
张金松
- 《第七届华东三省一市真空学术交流会》
| 2011年
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摘要:
采用磁控溅射的方法将掺杂了三氧化二镓的氧化锌薄膜(GZO)沉积在p型氮化镓衬底上并通过离子刻蚀制备出LED芯片,研究在空气和氮气氛围不同温度退火后的透过率和LED芯片在氮气氛围400°C退火后的性能.得如下结论:在氮气氛围下,400°C退火后透过率最高,为90.17%;空气退火后GZO薄膜的透过率比氮气退火的高;LED芯片400°C退火后,芯片的电压电流曲线有所改善,但芯片的亮度曲线和强度曲线均变差,说明磁控溅射的GZO电极的LED芯片不适合氮气氛围400°C退火.
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王万晶;
李喜峰;
张建华;
张金松
- 《第七届华东三省一市真空学术交流会》
| 2011年
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摘要:
采用磁控溅射的方法将掺杂了三氧化二镓的氧化锌薄膜(GZO)沉积在p型氮化镓衬底上并通过离子刻蚀制备出LED芯片,研究在空气和氮气氛围不同温度退火后的透过率和LED芯片在氮气氛围400°C退火后的性能.得如下结论:在氮气氛围下,400°C退火后透过率最高,为90.17%;空气退火后GZO薄膜的透过率比氮气退火的高;LED芯片400°C退火后,芯片的电压电流曲线有所改善,但芯片的亮度曲线和强度曲线均变差,说明磁控溅射的GZO电极的LED芯片不适合氮气氛围400°C退火.
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王万晶;
李喜峰;
张建华;
张金松
- 《第七届华东三省一市真空学术交流会》
| 2011年
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摘要:
采用磁控溅射的方法将掺杂了三氧化二镓的氧化锌薄膜(GZO)沉积在p型氮化镓衬底上并通过离子刻蚀制备出LED芯片,研究在空气和氮气氛围不同温度退火后的透过率和LED芯片在氮气氛围400°C退火后的性能.得如下结论:在氮气氛围下,400°C退火后透过率最高,为90.17%;空气退火后GZO薄膜的透过率比氮气退火的高;LED芯片400°C退火后,芯片的电压电流曲线有所改善,但芯片的亮度曲线和强度曲线均变差,说明磁控溅射的GZO电极的LED芯片不适合氮气氛围400°C退火.
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王万晶;
李喜峰;
张建华;
张金松
- 《第七届华东三省一市真空学术交流会》
| 2011年
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摘要:
采用磁控溅射的方法将掺杂了三氧化二镓的氧化锌薄膜(GZO)沉积在p型氮化镓衬底上并通过离子刻蚀制备出LED芯片,研究在空气和氮气氛围不同温度退火后的透过率和LED芯片在氮气氛围400°C退火后的性能.得如下结论:在氮气氛围下,400°C退火后透过率最高,为90.17%;空气退火后GZO薄膜的透过率比氮气退火的高;LED芯片400°C退火后,芯片的电压电流曲线有所改善,但芯片的亮度曲线和强度曲线均变差,说明磁控溅射的GZO电极的LED芯片不适合氮气氛围400°C退火.
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王万晶;
李喜峰;
张建华;
张金松
- 《第七届华东三省一市真空学术交流会》
| 2011年
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摘要:
采用磁控溅射的方法将掺杂了三氧化二镓的氧化锌薄膜(GZO)沉积在p型氮化镓衬底上并通过离子刻蚀制备出LED芯片,研究在空气和氮气氛围不同温度退火后的透过率和LED芯片在氮气氛围400°C退火后的性能.得如下结论:在氮气氛围下,400°C退火后透过率最高,为90.17%;空气退火后GZO薄膜的透过率比氮气退火的高;LED芯片400°C退火后,芯片的电压电流曲线有所改善,但芯片的亮度曲线和强度曲线均变差,说明磁控溅射的GZO电极的LED芯片不适合氮气氛围400°C退火.
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王万晶;
李喜峰;
张建华;
张金松
- 《第七届华东三省一市真空学术交流会》
| 2011年
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摘要:
采用磁控溅射的方法将掺杂了三氧化二镓的氧化锌薄膜(GZO)沉积在p型氮化镓衬底上并通过离子刻蚀制备出LED芯片,研究在空气和氮气氛围不同温度退火后的透过率和LED芯片在氮气氛围400°C退火后的性能.得如下结论:在氮气氛围下,400°C退火后透过率最高,为90.17%;空气退火后GZO薄膜的透过率比氮气退火的高;LED芯片400°C退火后,芯片的电压电流曲线有所改善,但芯片的亮度曲线和强度曲线均变差,说明磁控溅射的GZO电极的LED芯片不适合氮气氛围400°C退火.
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