掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献代查
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
电子学、通信
>
2010 International Conference onicroelectronic Test Structures
2010 International Conference onicroelectronic Test Structures
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
相关中文期刊
天津光电线缆技术
天津通信技术
光电技术
无线电与电视
数据通信
中国数字电视
通信与信息网络学报(英文)
数字世界
数字家庭
信息安全与通信保密
更多>>
相关外文期刊
Progress Report
Radio Engineers, Proceedings of the Indian Division of the British Institution of
Communication research
Solid state technology
Via satellite
Microwaves & RF
Tele Kommunikation Aktuell
QST
Proceedings of the IEE - Part III: Radio and Communication Engineering
Printed Circuit Design
更多>>
相关中文会议
第十届高功率粒子束学术交流会
第十届全国印制电路学术年会
第20届全国电磁兼容学术会议
第九届全国超导薄膜和超导电子器件学术会议
第七届全国雷达学术年会
第二届国际(深圳)测试与测量专业研讨会
2008年中国西部青年通信学术会议
2006年中国国际广播电视信息网络展览会CCBN2006
2002北京国际电视技术研讨会
中国电子学会电子对抗分会第十一届学术年会
更多>>
相关外文会议
Lidar Technologies, Techniques, and Measurements for Atmospheric Remote Sensing III; Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering; vol.6750
Distributed and Multiplexed Fiber Optic Sensors
Accelerator-based Sources of Infrared and Spectroscopic Applications
Next-generation optical communication: components, sub-systems, and systems
Personal Wireless Communications; Lecture Notes in Computer Science; 4217
Conference on Ultrafast Phenomena in Semiconductors and Nanostructure Materials VIII; 20040126-20040129; San Jose,CA; US
High-Performance System Design Conference, 1999
2000 International Seminar on Teletraffic and Network: Teletraffic Issues and Technology on Broadband Telecommunication November 15-17, 2000 Zhijiang Hotel, Hangzhou, China
Color Imaging Conference: Color Science and Engineering: Systems, Technologies, Applications; 20041109-12; Scottsdale,AZ(US)
2011 International Symposium on Advanced Packaging Materials
更多>>
热门会议
Meeting of the internet engineering task force;IETF
日本建築学会;日本建築学会大会
日本建築学会(Architectural Institute of Japan);日本建築学会年度大会
日本建築学会学術講演会;日本建築学会
日本建築学会2010年度大会(北陸)
Korean Society of Noise & Vibration Control;Institute of Noise Control Engineering;International congress and exposition on noise control engineering;ASME Noise Control & Acoustics Division
土木学会;土木学会全国大会年次学術講演会
応用物理学会秋季学術講演会;応用物理学会
総合大会;電子情報通信学会
The 4th International Conference on Wireless Communications, Networking and Mobile Computing(第四届IEEE无线通信、网络技术及移动计算国际会议)论文集
更多>>
最新会议
2011 IEEE Cool Chips XIV
International workshop on Java technologies for real-time and embedded systems
Supercomputing '88. [Vol.1]. Proceedings.
RILEM Proceedings PRO 40; International RILEM Conference on the Use of Recycled Materials in Buildings and Structures vol.1; 20041108-11; Barcelona(ES)
International Workshop on Hybrid Metaheuristics(HM 2007); 20071008-09; Dortmund(DE)
The 57th ARFTG(Automatic RF Techniques Group) Conference, May 25, 2001, Phoenix, AZ
Real Time Systems Symposium, 1989., Proceedings.
Conference on Chemical and Biological Sensing V; 20040412-20040413; Orlando,FL; US
American Filtration and Separations Society conference
Combined structures congress;North American steel construction conference;NASCC
更多>>
全选(
0
)
清除
导出
1.
On-chip in-situ measurements of V
th
and AC gain of differential pair transistors
机译:
差分对晶体管的V
th inf>和AC增益的片上原位测量
作者:
Bando Yoji
;
Takaya Satoshi
;
Ohkawa Toru
;
Takaramoto Toshiharu
;
Yamada Toshio
;
Souda Masaaki
;
Kumashiro Shigetaka
;
Nagata Makoto
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
2.
Session 9: Parameter extraction and RF
机译:
专场9:参数提取和RF
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
3.
Global parameter extraction for a multi-gate MOSFETs compact model
机译:
多栅极MOSFET紧凑模型的全局参数提取
作者:
Yao Shijing
;
Morshed Tanvir H.
;
Lu Darsen D.
;
Venugopalan Sriramkumar
;
Xiong Weize
;
Cleavelin C. R.
;
Niknejad Ali M.
;
Hu Chenming
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
BSIM-CMG;
global extraction;
multi-gate;
4.
Chairman's letter
机译:
董事长致辞
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
5.
Copyright page
机译:
版权页
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
6.
Blank 2
机译:
空白2
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
7.
Session 3: Nano/MEMS
机译:
第三部分:纳米/ MEMS
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
8.
A test structure for statistical evaluation of pn junction leakage current based on CMOS image sensor technology
机译:
基于CMOS图像传感器技术的pn结漏电流统计评估测试结构
作者:
Abe Kenichi
;
Fujisawa Takafumi
;
Suzuki Hiroyoshi
;
Watabe Shunichi
;
Kuroda Rihito
;
Sugawa Shigetoshi
;
Teramoto Akinobu
;
Ohmi Tadahiro
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
CMOS active pixel image sensor;
MOSFETs;
pn junction leakage currents;
statistical evaluation;
9.
Efficient characterization and suppression methodology of edge effects for leakage current reduction of sub-40nm DRAM device
机译:
边缘效应的有效表征和抑制方法,可降低40nm以下DRAM器件的漏电流
作者:
Choi Soo Han
;
Park Young Hee
;
Park Chul Hong
;
Lee Sang Hoon
;
Yoo Moon Hyun
;
Kim Gyu Tae
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
analytic model;
edge effects;
leakage current;
shaping gate channel;
10.
Kelvin resistor structures for the investigation of corner serif Proximity Correction
机译:
开尔文电阻器结构,用于角衬线接近校正研究
作者:
Smith S.
;
Tsiamis A.
;
McCallum M.
;
Hourd A. C.
;
Stevenson J. T. M.
;
Walton A. J.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
11.
MOSFET-array for extracting parameters expressing SPICE-parameter variation
机译:
MOSFET阵列,用于提取表示SPICE参数变化的参数
作者:
Terada Kazuo
;
Ekida Naoya
;
Tsuji Katsuhiro
;
Tsunomura Takaaki
;
Nishida Akio
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
MOSFET array;
Parameter extraction;
Parameter variation;
SPICE model;
12.
New RF intrinsic parameters extraction procedure for advanced MOS transistors
机译:
用于高级MOS晶体管的新的RF本质参数提取程序
作者:
Tinoco J. C.
;
Martinez-Lopez A. G.
;
Emam M.
;
Raskin J.-P.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
Intrinsic parameters;
MOSFET;
RF characterization;
SOI technology;
small-signal equivalent circuit;
13.
On the validity of bisection-based thru-only de-embedding
机译:
基于二等分的全通去嵌入的有效性
作者:
Sekiguchi T.
;
Amakawa S.
;
Ishihara N.
;
Masu K.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
14.
Blank 12
机译:
空白12
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
15.
A unique and accurate extraction technique of the asymmetric bottom-pillar resistance for the vertical MOSFET
机译:
垂直MOSFET非对称底柱电阻的独特而精确的提取技术
作者:
Sakui Koji
;
Endoh Tetsuo
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
16.
Characterization u00026; modeling of gate-induced-drain-leakage with complete overlap and fringing model
机译:
表征 u00026;完全重叠和边缘模型的浇灌引起的漏水建模
作者:
Rideau D.
;
Quenette V.
;
Garetto D.
;
Dornel E.
;
Weybright M.
;
Manceau J. P
;
Saxod O.
;
Tavernier C.
;
Jaouen H.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
Leakage currents;
MOSFETs;
Tunneling;
17.
Compact models of parasitic resistance of resistors for analog circuits
机译:
用于模拟电路的电阻器的寄生电阻的紧凑模型
作者:
Yamada Kenta
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
compact;
model;
parasitic;
resistance;
resistor;
18.
Fabrication of test structures to monitor stress in SU-8 films used for MEMS applications
机译:
制造测试结构以监测用于MEMS应用的SU-8膜中的应力
作者:
Smith S.
;
Brockie N. L.
;
Murray J.
;
Wilson C. J.
;
Horsfall A. B.
;
Terry J. G.
;
Stevenson J. T. M.
;
Mount A. R.
;
Walton A. J.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
19.
A bulk micromachined vertical nano-gap Pirani wide-range pressure test structure for packaged MEMS performance monitoring
机译:
用于封装MEMS性能监测的大块微加工垂直纳米间隙Pirani宽压力测试结构
作者:
Kubota Masanori
;
Okada Toshihiro
;
Mita Yoshio
;
Sugiyama Masakazu
;
Nakano Yoshiaki
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
20.
Blank
机译:
空白
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
21.
Direct probing of trapped charge dynamics in SiN by Kelvin Force Microscopy
机译:
用开尔文力显微镜直接探测SiN中捕获的电荷动力学
作者:
Vianello E.
;
Nowak E.
;
Mariolle D.
;
Chevalier N.
;
Perniola L.
;
Molas G.
;
Colonna J. P.
;
Driussi F.
;
Selmi L.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
22.
Test circuit for measuring single-event-induced charge sharing in deep-submicron technologies
机译:
用于测量深亚微米技术中单事件引发的电荷共享的测试电路
作者:
Amusan O. A.
;
Bhuva B. L.
;
Casey M. C.
;
Gadlage M. J.
;
McMorrow D.
;
Melinger J. S.
;
Massengill L. W.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
charge collection;
charge sharing;
on-chip test circuit;
single event circuit characterization;
two-photon absorption;
23.
Ring oscillator based embedded structure for decoupling PMOS/NMOS degradation with switching activity replication
机译:
基于环形振荡器的嵌入式结构,用于通过切换活动复制将PMOS / NMOS降级耦合
作者:
Ahmed Fahad
;
Milor Linda
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
Data Paths;
NBTI;
PBTI;
Switching Activity Replication;
24.
Session 5: Circuit
机译:
第五节:巡回赛
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
25.
Blank 4
机译:
空白4
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
26.
On-wafer inductance and resistance characterization of sub-5pH deep silicon via (DSV)
机译:
低于5pH的深硅通孔(DSV)的晶圆上电感和电阻特性
作者:
Blaschke Volker
;
Zwingman Robert
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
SiGe power amplifiers;
common emitter configuration;
deep silicon via;
shunt resonator;
thru-wafer via;
27.
Test structures for characterization of through silicon vias
机译:
表征硅通孔的测试结构
作者:
Stucchi M.
;
Perry D.
;
Katti G.
;
Dehaene W.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
3D stack;
RO (Ring Oscillator);
SPICE simulations;
TSV (Through Silicon Via);
TSV resistance;
capacitance;
electrical measurements;
leakage;
yield;
28.
An embedded process monitor test chip architecture
机译:
嵌入式过程监控器测试芯片架构
作者:
Idgunji Sachin
;
Chandra Vikas
;
Pietrzyk Cezary
;
Iqbal Imran
;
Aitken Rob
;
Yeric Greg
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
Design for Testability;
Semiconductor Device Measurements;
Semiconductor Device Testing;
Yield Optimization;
29.
Blank 3
机译:
空白3
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
30.
A test structure for integrated capacitor array matching characterization
机译:
集成电容器阵列匹配特性的测试结构
作者:
Posch Werner
;
Promitzer Gilbert
;
Seebacher Ehrenfried
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
DFM;
capacitance array;
capacitance matching;
capacitance mismatch;
floating gate;
matching;
unit capacitors;
31.
Fully understanding the mechanism of misalignment-induced narrow-transistor failure and carefully evaluating the misalignment-tolerant SRAM-cell layout
机译:
充分了解失准引起的窄晶体管故障的机制,并仔细评估容错的SRAM单元布局
作者:
Nakai Satoshi
;
Miyazaki Yasumori
;
Nakamura Ryo
;
Suga Masato
;
Tsuruta Tomoya
;
Yasuda Makoto
;
Kashiwagi Takamitsu
;
Maki Yasuhiko
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
Failure analysis;
Integrated circuit layout;
SRAM chips;
32.
Blank 6
机译:
空白6
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
33.
Blank 5
机译:
空白5
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
34.
An efficient method of calibrating MOSFET capacitances by way of excluding intra- DUT parasitic contributions
机译:
通过排除DUT内的寄生影响来校准MOSFET电容的有效方法
作者:
Naruta Yasuhisa
;
Koh Rishou
;
Iizuka Takahiro
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
About MOSFETs;
Calibraion;
Capacitance;
35.
Fast RF-CV characterization through high-speed 1-port S-parameter measurements
机译:
通过高速1端口S参数测量快速表征RF-CV
作者:
Herfst R. W.
;
Steeneken P. G.
;
Tiggelman M. P. J.
;
Stulemeijer J.
;
Schmitz J.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
36.
Correlation between Direct Charge Measurement (DCM) and LCR meter on deep submicron CMOS test structure capacitance measurement
机译:
直接电荷测量(DCM)和LCR测量仪在深亚微米CMOS测试结构电容测量中的相关性
作者:
Miyake Yasuhiro
;
Goto Masaharu
;
Fujii Shunsuke
;
Nishimura Hidetoshi
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
CBCM;
Capacitance measurement;
Direct Charge Measurement;
LCR meter;
MOSCAP;
37.
Blank 7
机译:
空白7
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
38.
Test structures to quantify contact placement-impacted drain current variations
机译:
测试结构以量化接触位置影响的漏极电流变化
作者:
Topaloglu Rasit O.
;
Wu Zhi-Yuan (Joanne)
;
Icel Ali B.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
39.
Blank 9
机译:
空白9
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
40.
Methodology to evaluate long channel matching deterioration and effects of transistor segmentation on MOSFET matching
机译:
评估长通道匹配劣化以及晶体管分段对MOSFET匹配影响的方法
作者:
Tuinhout Hans
;
Wils Nicole
;
Meijer Maurice
;
Andricciola Pietro
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
41.
Blank 8
机译:
空白8
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
42.
Comprehensive quality assurance methodology for BSIM4.5 corner parameter extraction
机译:
用于BSIM4.5角参数提取的全面质量保证方法
作者:
Masuda Hiroo
;
Itoh Satoshi
;
Koike Hiroshi
;
Wakita Naoki
;
Inagaki Ryosuke
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
90nm process benchmark;
Compact MOS model;
Corner parameter;
Quality assurance;
43.
Combined test structure for systematic and stochastic mosfets and gate resistance process variation assessment
机译:
用于系统和随机mosfet的组合测试结构以及栅极电阻过程变化评估
作者:
Bortesi L.
;
Vendrame L.
;
Fontana G.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
Mismatch;
process variability;
44.
A universal structure for SRAM cell characterization
机译:
SRAM单元表征的通用结构
作者:
Deng Xiaowei
;
Houston Theodore W.
;
Duong Anhkim
;
Loh Wah Kit
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
45.
Session 1: Sensors
机译:
第一节:传感器
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
46.
Authors index
机译:
作者索引
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
47.
Small embedded sensors for accurate temperature measurements in DMOS power transistors
机译:
小型嵌入式传感器,用于DMOS功率晶体管中的精确温度测量
作者:
Pfost Martin
;
Costachescu Dragos
;
Podgaynaya Alja
;
Stecher Matthias
;
Bychikhin Sergey
;
Pogany Dionyz
;
Gornik Erich
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
48.
Blank 1
机译:
空白1
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
49.
A Balanced-SeeSaw MEMS swing probe for vertical profilometry of deep micro structures
机译:
用于深层微结构的垂直轮廓测量的Balanced-SeeSaw MEMS摆动探针
作者:
Mita Yoshio
;
Pourciel Jean-Bernard
;
Kubota Masanori
;
Ma Shaojun
;
Morishita Satoshi
;
Tixier-Mita Agnes
;
Masuzawa Takahisa
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
50.
Test structures for characterising the integration of EWOD and SAW technologies for microfluidics
机译:
用于表征微流体的EWOD和SAW技术集成的测试结构
作者:
Li Y.
;
Fu Y. Q.
;
Flynn B. W.
;
Parkes W.
;
Liu Y.
;
Brodie S.
;
Terry J. G.
;
Haworth L. I.
;
Bunting A. S.
;
Stevenson J. T. M.
;
Smith S.
;
Walton A. J.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
ElectroWetting On Dielectric (EWOD);
Manipulation;
Microfluidics;
Mixing;
Surface Acoustic Wave (SAW);
Test Structures;
Transportation;
51.
Session 4: Poster
机译:
第四场:海报
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
52.
Pulsed measurement method for characterizing chemical solutions using nanowire field effect transistors
机译:
使用纳米线场效应晶体管表征化学溶液的脉冲测量方法
作者:
Mescher Marleen
;
Marcelis Bout
;
de Wild Marco
;
Klootwijk Johan H.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
FET;
Nanowire;
fluidics;
pulsed measurements;
sensor;
53.
Orientation dependence and asymmetry of subthreshold characteristics in CMOSFETs
机译:
CMOSFET中亚阈值特性的方向依赖性和不对称性
作者:
Matsuda T.
;
Matsumura Y.
;
Iwata H.
;
Ohzone T.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
CMOSFETs;
GIDL;
Subthreshold current;
asymmetry;
54.
Novel test structures for temperature budget determination during wafer processing
机译:
用于晶圆加工过程中温度预算确定的新型测试结构
作者:
Faber Erik J.
;
Wolters Rob. A. M.
;
Schmitz Jurriaan
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
metallization;
process monitoring;
silicon on insulator technology;
temperature measurement;
55.
Session 10: Devices
机译:
第十节:设备
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
56.
Blank 11
机译:
空白11
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
57.
Blank 10
机译:
空白10
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
58.
Session 2: Process characterization I
机译:
第二节:过程表征I
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
59.
Highly automated sequence for Phase Change Memory test structure characterization
机译:
高度自动化的相变存储器测试结构表征序列
作者:
Toffoli A.
;
Fantini A.
;
Beneventi G. Betti
;
Perniola L.
;
Kies R.
;
Vidal V.
;
Nodin J. F.
;
Sousa V.
;
Persico A.
;
Cluzel J.
;
Jahan C.
;
Maitrejean S.
;
Reimbold G.
;
DeSalvo B.
;
Boulanger F.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
60.
A test vehicle and a two step procedure to evaluate a massive number of single-walled carbon nanotube field effect transistors
机译:
用于评估大量单壁碳纳米管场效应晶体管的测试车辆和两步过程
作者:
Martin-Fernandez I.
;
Sansa M.
;
Perez-Murano F.
;
Godignon P.
;
Lora-Tamayo E.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
Batch fabrication;
CNT-FET;
carbon nanotube transistors;
testing;
61.
Analysis of the performance of a micromechanical test structure to measure stress in thick electroplated metal films
机译:
用于测量厚电镀金属膜中应力的微机械测试结构的性能分析
作者:
Smith S.
;
Brockie N. L.
;
Murray J.
;
Wilson C. J.
;
Horsfall A. B.
;
Terry J. G.
;
Stevenson J. T. M.
;
Mount A. R.
;
Walton A. J.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
62.
Electrical characterization of novel PMNT thin-films
机译:
新型PMNT薄膜的电学表征
作者:
Chen Wenbin
;
McCarthy Kevin G.
;
Copuroglu Mehmet
;
OBrien Shane
;
Winfield Richard
;
Mathewson Alan
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
High-k;
PMNT;
dielectric constant;
dielectric loss tangent;
thin-film;
63.
Investigation on the field leakage current in 0.35μm CMOS technology at high temperature
机译:
0.35μmCMOS工艺高温下的场泄漏电流研究
作者:
Kong Soon Tat
;
Ronald Paul Stribley
;
Lee Chris
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
64.
SIS wide-band model extraction methodology for SOI on-chip inductor
机译:
用于SOI片上电感器的SIS宽带模型提取方法
作者:
Topaloglu Rasit Onur
;
Goo Jung-Suk
;
Loke Alvin L. S.
;
Oshima Michael M.
;
Sim Sam Wonsae
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
65.
Generation, elimination and utilization of harmonics in ring oscillators
机译:
环形振荡器中谐波的产生,消除和利用
作者:
Bhushan Manjul
;
Ketchen Mark B.
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
CMOS digital integrated circuits;
CMOSFET oscillators;
power measurements;
silicon-on-insulator technology;
66.
Session 6: Process characterization II
机译:
第六节:过程表征II
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
67.
Test structures for characterization of thermal-mechanical stress in 3D stacked IC for analog design
机译:
用于模拟设计的3D堆叠IC中表征热机械应力的测试结构
作者:
Minas Nikolaos
;
Van der Plas Geert
;
Oprins Herman
;
Yang Yu
;
Okoro Chuckwudi
;
Mercha Abdelkarim
;
Cherman Vladimir
;
Torregiani Cristina
;
Perry Dan
;
Cupac Miro
;
Rakowski Michal
;
Marchal Pol
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
关键词:
3D;
Digital to Analog Converters;
Thermal-Mechanical stress;
analog devices;
68.
Session 7: Capacitance
机译:
第七节:电容
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
69.
Influence of metal coverage on transistor mismatch and variability in copper damascene based CMOS technologies
机译:
基于铜镶嵌的CMOS技术中金属覆盖率对晶体管失配和可变性的影响
作者:
Wils Nicole
;
Tuinhout Hans
;
Meijer Maurice
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
70.
Session 8: Matching
机译:
专场8:配对
会议名称:
《2010 International Conference onicroelectronic Test Structures》
|
2010年
意见反馈
回到顶部
回到首页