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IEEE Workshop on RTL and high level testing
IEEE Workshop on RTL and high level testing
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1.
Keynote Speech Low-Power Testing for Low-Power Devices
机译:
低功耗设备的主题演讲低功耗测试
作者:
Xiaoqing Wen
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
2.
Multi Level Test Package A Package for C/C++ Gate Level Fault Simulation of System Level Design
机译:
多级测试包A包C / C ++门电平故障仿真系统级设计
作者:
S.Sadeghi
;
F.Javaheri
;
S.Mahmoodi
;
Z. Navabi
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
TLM;
test;
system level design;
fault simukrtion;
C++;
3.
Experimental Evaluation of Hybrid RTL Scan Design
机译:
杂交RTL扫描设计的实验评估
作者:
Seiji Hirota
;
Ke Wang
;
Yuki Yoshikawa
;
Hideyuki Ichihara
;
Tomoo Inoue
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
RTL scan design;
logic synthesis;
area/delay optimization.;
4.
Study on Insertion Point and Area of Observation Circuit for On-Chip Debug Technique
机译:
片上调试技术观察点和区域的研究
作者:
Masayuki Arai
;
Yoshihiro Tabata
;
Kazuhiko Iwasaki
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
on-chip debug;
sillcon debug;
post-silicon vlidation;
design-for-debug;
5.
An Approach for Verification Assertions Reuse in RTL Test Pattern Generation
机译:
RTL测试模式生成中验证断言重用的方法
作者:
M.Jenihhin
;
J.Raik
;
R.Ubar
;
T.Viilukas
;
H.Fujiwara
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
RTL ATPG;
assertions;
non-scan designs;
6.
Low-Power DLL-based On-Product Clock Generation for 3D Integrated Circuit Testing
机译:
基于低功耗的DLL基础产品时钟,用于3D集成电路测试
作者:
Michael Buttrick
;
Sandip Kundu
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
3D Integnated Circua Testing;
Delay Lock Loops;
Low Power Testing;
On-product Clock Generation;
7.
Testable and Built-In Self-Test Techniques for Motion Estimation Computing Arrays
机译:
用于运动估计计算阵列的可测试和内置的自测技术
作者:
Mao- Yang Dong
;
Sheu-Hen Yang
;
Shyue-Kung Lu
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
8.
VPLib: A Hybrid Method to Verify Microprocessor Prototypes on FPGA
机译:
VPLIB:一种验证FPGA上微处理器原型的混合方法
作者:
Jingfen LU
;
Lingkan GONG
;
Peng MA
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
Microprocessor Verification;
FPGA;
Veriflcatioon Purpose Library;
Verification Purpose Operating System;
9.
Clock Signal Modulation for IC Electromagnetic Compatibility
机译:
IC电磁兼容性时钟信号调制
作者:
F.Lavratti
;
L.Bolzani
;
F.Vargas
;
J.Semi(a)o
;
J.Rodríguez-Andina
;
I.Teixeira
;
P.Teixeira
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
signal integrity;
IEC 61000-4-29;
10.
Test Scheduling of Modular System-on-Chip under Capture Power Constraint
机译:
捕获功率约束下模块化系统的测试调度
作者:
Jaynarayan Tudu
;
Erik Larsson
;
Virendra Singh
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
11.
Low-Power Wrapper Design for IP Cores Based on IEEE 1500 Standard
机译:
基于IEEE 1500标准的IP核心的低功耗包装器设计
作者:
Yang Yu
;
Gang Xiang
;
Liyan Qiao
;
Dianguo Xu
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
SOC test IEEE 1500;
test wrapper cell;
transmission gate;
power reduction;
12.
X-Identification of Transition Delay Fault Tests for Launch-off Shift Scheme
机译:
发射换档方案过渡延迟故障测试的X识别
作者:
K. Miyase
;
F.Wu
;
L.Dilillo
;
A.Bosio
;
P.Girard
;
X.Wen
;
S.Kajihara
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
transition delay fault;
launch-off-shift;
ATPG;
X-bit;
X-identification;
X-filling;
13.
A New Class of Acyclically Testable Sequential Circuits with Multiplexers
机译:
具有多路复用器的新类别的无裂缝可验证的顺序电路
作者:
Nobuya Oka
;
Yuki Yoshikawa
;
Hideyuki Ichihara
;
Tomoo Inoue
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
Thru testabitity;
design for testability;
time expansion model;
combinational test generation algorithm.;
14.
Test Vector Reduction by Reordering Flip-flops for Scan Architecture with Delay Fault Testability
机译:
通过重新排序触发器进行扫描架构进行测试减少,具有延迟故障可测试性
作者:
Kiyonori MATSUMOTO
;
Kazuteru NAMBA
;
Hideo ITO
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
delay fault test;
path delay fault;
two-pauern testing;
scan architecture;
Chiba-scan;
15.
A Scalable Test Access Mechanism for Godson-T Multi-core Processor
机译:
Godson-T多核处理器的可扩展测试访问机制
作者:
LuningKong
;
Yu Hu
;
XiaoweiLj
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
TAM;
scalability;
multi-core processor;
wrapper;
test pattern generation.;
16.
Test Wrapper Design for 3D System-on-Chip Using Optimized Number of TSVs
机译:
使用优化的TSV芯片测试3D系统的试验包装设计
作者:
Surajit Kumar Roy
;
Sourav Ghosh
;
Hafizur Rahaman
;
Chandan Giri
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
Scan chain;
3D integrated circuits;
wrapper design;
test access mechanism;
17.
A Simulation-Based Feature Selection Approach for Test Point Selection in HDL Models
机译:
基于模拟的HDL模型测试点选择的特征选择方法
作者:
Nastaran Nemati
;
Seyyed Ehsan Mahmoudi
;
Amirhossein Simjour
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
Test Point Insertion;
Feature Sdection Variable Selection;
Hardware Description Languages.;
18.
Functional Fault Model for Micro Operation Faults of High Correlation with Stuck-At Faults
机译:
与粘滞故障高相关的微操作故障功能故障模型
作者:
Chia Yee OOI
;
Hideo FUJIWARA
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
functional fauk model;
fault coverage;
arithmetic operations.;
19.
An Approach to Test Scheduling for Asynchronous On-Chip Interconnects Using Integer Programming
机译:
使用整数编程测试异步片上互连的调度方法
作者:
Tsuyoshi Iwagaki
;
Eiri Takeda
;
Mineo Kaneko
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
Asynchronous on-chip interconnect CHAIN;
stuck-at fault test scheduling;
integer programming;
20.
Transaction Level Formal Verification using Timed Automata
机译:
交易级别使用定时自动机正式验证
作者:
A.Ghofrani
;
F. Javaheri
;
H. Noori
;
Z. Navabi
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
formal verification;
timed automatta;
transaction level modeling;
UPPAAL;
21.
An Optimal HDL-based Approach for Mixed-Ievel Hierarchical Fault Simulation
机译:
基于HDL的混合Ievel分层故障模拟方法
作者:
Nastaran Nemati
;
Arezoo Kamran
;
MohammadHossein Sargolzaie
;
MohammadHashem Haghbayan
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
hierrrrchical fault simulation;
fast fault simulation;
concurrentfault simulation;
HDL;
22.
Network-on-Chip Concurrent Error Recovery Using Functional Switch Faults
机译:
使用功能开关故障恢复网络上芯片并发错误
作者:
Naghmeh Karimi
;
Somayeh Sadeghi
;
Zainalabedin Navabi
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
NoC Error Recovery;
High Level Fault Model;
23.
Fast Detection and Analysis Schemes for System-in-Package in the Presence of RAM
机译:
在RAM存在下系统内包装的快速检测和分析方案
作者:
Chia-Yi Lin
;
Yu-Wei Chen
;
Wang-Jin Chen
;
Hung-Ming Che
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
Interconnect;
RAM;
SiP;
Test Scheme;
Faults;
24.
Design for Efficient Speed-Binning and Circuit Failure Prediction and Detection
机译:
设计高效速度排放和电路故障预测和检测
作者:
Songwei Pei
;
Huawei Li
;
Xiaowei Li
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
Speed-binning;
Failweprediction;
Failure detection;
Stability checker;
Binning indicator;
25.
SREEP-2:SR-Equivalent Generator for Secure and Testable Scan Design
机译:
SREEP-2:SR等效发电机,用于安全可测试的扫描设计
作者:
Katsuya Fujiwara
;
Hideo Fujiwara
;
Hideo Tamamoto
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
design-for-tesmbility;
scan design;
shift register equivalents;
security;
scan-based side-channel attack.;
26.
Checking Pipelined Distributed Global Properties for Post-silicon Debug
机译:
检查Post-Silicon调试的流水线分布式全局属性
作者:
Erik Larsson
;
Bart Vermeulen
;
Kees Goossens
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
Validation;
races;
monitors;
distributed property checking;
27.
A Comprehensive Functional Time Expansion Model Generation Method for Datapaths Using Controllers
机译:
使用控制器的数据路径综合功能时间扩展模型生成方法
作者:
Toshinori HOSOKAWA
;
Teppei HAYAKAWA
;
Masayoshi YOSHIMURA
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
n-state transition cover;
functional time expansion models;
datapath circuits;
constrained sequential test generation;
28.
A Practical and Efficient Metbod to Test for Bridging Defects
机译:
一种用于桥接缺陷的实用有效的方法
作者:
Cynthia Hao
;
Colin D.Renfrew
会议名称:
《IEEE Workshop on RTL and high level testing》
|
2010年
关键词:
Bridging Defect;
Fault Model;
ATPG;
N-detect;
EMD;
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