...
机译:聚酯薄膜和聚丙烯薄膜中236 keV-3.019 MeV质子的阻止
Division de Physique Nucleaire, CRNA, 02, Bd. Frantz, Fanon, B.P. 399 Alger-gare, Algiers, Algeria;
stopping power; additivity rule; ionization potential; polymers;
机译:蒙特卡罗计算能量范围为50-400 MeV的质子的EBT3和EBT-XD薄膜的质量阻止能力
机译:用能量范围从17到40 MeV的质子轰击U-236来生产Np-234,Np-235和Pu-236
机译:卡普顿聚酰亚胺薄膜中(0.9-3.4)MeV质子的停止功率和能量损耗
机译:为什么质子的截止截面中的最大值通常在大约100 keV处出现?
机译:0.4和铀M壳X射线产生的横截面,用于0.4–4.0 MeV质子,0.4–6.0 MeV氦离子,4.5–11.3 mev碳离子和4.5–13.5 MeV氧离子
机译:蒙特卡洛计算能量范围为50–400 MeV的质子的EBT3和EBT-XD薄膜的质量阻止能力
机译:在纳米PT薄膜上停止和磨损60-250ke-KeV背散射质子
机译:中子产率来自256-meV质子的停止长度和近停止长度目标。