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机译:在31.635 keV时元素的L X射线强度比为74≤Z≤92
Department of Physics, K.K. Education Faculty, Ataturk University, 25240 Erzurum, Turkey;
photoionisation; EDXRF; radioisotopes; inner-shell; intensity ratio; L X-rays;
机译:能量为74 <= Z <= 92的L子壳X射线产生截面的测量,能量为31.635 keV,L子壳的荧光产率为
机译:在外部磁场中由59.54 keV光子激发的范围为73 <= Z <= 92的元素的L1 / L alpha X射线强度比
机译:由5.9、59.5和123.6keV光子激发的16 <= Z <= 92范围内的元素的K_β/K_αX射线强度比
机译:在59.5 keV下测定原子范围内的一些元素的k_αX射线线的自然线宽,在50≤z≤65中
机译:在keV范围内的一代Ultrakurz离子脉冲=在kev范围内产生超短的离子脉冲
机译:高分辨率光谱仪可在6 keV至15 keV的能量范围内扩展X射线吸收精细结构的测量
机译:一些元素的Kβ/KαX射线强度比在原子序数范围28≤Z≤39,在16.896keV
机译:X射线质量衰减系数和质量能量吸收系数表1 keV至20 meV,元素Z = 1至92和48个其他物质的剂量学兴趣