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机译:回顾Si和SiO_2对〜4He离子的阻止能力:0.5-2.0 MeV
Department of Physics and Astronomy, Interface Science Western, The University of Western Ontario, London, ON, Canada N6A 3K7;
stopping power; silicon dioxide; rutherford backscattering;
机译:精确的(0.21-2.68)MeV / u〜1H〜+和〜4He〜+离子穿过薄铝箔的停止功率测量; (I,b)参数的提取
机译:(0.9-3.0)MeV〜4He〜+快速离子的铋薄膜的停止功率和能量损耗散失数据
机译:轰击目标为100和230 MeV / amu〜4He离子的二次中子和带电粒子测量的实验设计
机译:从1.0到20.5 mev停止钛的钛〜4he离子
机译:精确测量5至30 MeV电子的碰撞停止功率。
机译:蒙特卡洛计算能量范围为50–400 MeV的质子的EBT3和EBT-XD薄膜的质量阻止能力
机译:Al,Cu,Ag和Au介质的停止功率为1.47 MeV / u $ ^ {127} $ I,2 MeV / u $ ^ {32} $ S和$ ^ {79} $ Br离子
机译:重离子在中间能量停止。 I.阻止/ sup 40 / ar和/ sup 40 / Ca的固体功率为20-80 meV / U.