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GE holds successful X-ray forum in Hamburg

机译:GE在汉堡成功举办X射线论坛

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摘要

More than 140 delegates from around the world attended the 8th X-Ray Forum organised by GE Measurement & Control, which took place in Ahrensburg, near Hamburg, from 16-18 October. Papers presented at the forum covered the comprehensive and ever-increasing scope of industrial radiography and computed tomography (CT). Technology presentations featured the latest developments in the radiography imaging chain and the state-of-the-art in 2D and 3D radiography, including the automation of computed tomography for use in the production line.
机译:来自全球的140多名代表参加了10月16日至18日在汉堡附近的阿伦斯堡举行的由GE Measurement&Control组织的第八届X射线论坛。论坛上发表的论文涵盖了工业射线照相和计算机断层扫描(CT)的全面且不断增长的范围。技术演讲介绍了放射成像成像链的最新进展以及2D和3D放射成像的最新技术,包括用于生产线的计算机断层摄影的自动化。

著录项

  • 来源
    《Insight》 |2012年第12期|657-657|共1页
  • 作者

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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《化学文摘》(CA);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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