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Doped Polycrystalline 3C-SiC Films Deposited by LPCVD for Radio-Frequency MEMS Applications

         

摘要

多晶的 3C-SiC 电影被低压力化学药品蒸汽免职(LPCVD ) 作为先锋与 C3H8 和 SiH4 在 SiO2 涂的 Si 底层上扔。控制的氮做被增加 NH3 在期间执行原文如此,获得低抵抗力 3C-SiC 的生长拍摄。X 光检查衍射(XRD ) 模式显示扔的电影是高度粗糙的(111 ) 取向。表面形态学和粗糙被扫描电子显微镜学(SEM ) 和原子力量显微镜学(AFM ) 决定。表面特征是有 100 nm 的平均谷物尺寸的 spherulitic 质地,并且 rms 粗糙是 20nm (AFM 5 x 5 亩 m 图象) 。多晶的 3C-SiC 电影与高度, orientational 质地和在 SiO2 涂的 Si 底层上扔的好表面形态学能被用来制作 rf 微机电的系统(MEMS ) 设备象原文如此基于的过滤器那样。

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